Сканирующий электронный микроскоп JSM-5910LV (фирма JEOL, 2001 г.) с аналитической системой Aztec ENERGY (фирма OXFORD INSTRUMENTS), включающей приставки для рентгеновского микроанализа (EDS и WDS) и приставку CRYSTAL для исследований методом дифракции обратно-рассеянных электронов.
Рентгеновские дифрактометры:
D2 Phaser (фирма Bruker AXS,) позволяет изучать широкий круг образцов. Дифрактометр позволяет решать различные задачи: идентификация фаз, микродифракционный анализ, исследование текстур и напряжений, малоугловое рентгеновское рассеяние, высокопроизводительный скрининг, рентгеновскую дифрактометрию высоко разрешения, индицирование и определение структуры.
D8 Discover– многофункциональный дифрактометр, предоставляющий возможность проведения микрорентгенофазового анализа